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更新時間：2026-02-28 
瀏覽次數：94UIH-1C 型超高亮度照明裝置（UIH Series）是由株式會社 INTECS 開發的專業光學檢測設備。該裝置主要利用丁達爾現象（Tyndall Phenomenon），通過投射高亮度光線，輔助用戶對半導體晶圓（Wafer）及光掩模玻璃（Mask Glass）等精密光學材料進行表面與內部缺陷的目視檢查。
檢測原理：當高亮度光線照射到目標物體時，利用丁達爾現象使微小的異物、氣泡或傷痕產生散射光，從而在視覺上清晰可見。
適用對象：
半導體晶圓（Semiconductor Wafer）
光掩模玻璃（Mask Glass）
液晶面板（LCD Panel）
硬盤（Hard Disk）
鏡頭及智能手機部件等。
根據公開的技術資料，UIH-1C 型號的具體參數如下：
| 項目 | 規格參數 |
|---|---|
| 光源規格 | 15V 150W |
| 設計照射范圍 | 鏡筒前端 180mm 處，直徑 φ40mm |
| 最的高照度 | 照射范圍中心約 600,000 勒克斯 (Lux) |
| 500,000 勒克斯時的照射范圍 | 約 φ45mm |
| 倍徑距離與照度 | 360mm 距離下，照度約 150,000 勒克斯 |
| 調光方式 | SCR 相位控制 (SCR Phase Control) |
| 冷卻方式 | 風扇強制空冷 (Fan Forced Air Cooling) |
| 電源要求 | AC100V 變壓器式 (Transformer type) |
| 外形尺寸/重量 | 約 7kg |
亮度調節：具備 10:1 以上的可變寬度，最的高亮度偏差控制在上限 10%、下限 20%。
燈泡壽命：
最的高亮度下壽命：50 小時以上。
半亮度下壽命：800 小時以上。
冷卻保護機制：該型號不具備“燈泡室冷卻保持功能"（即在主電源關閉后，風扇不會持續運行至室溫降至 40℃ 以下）。同時，該型號未配備燈泡室內發熱監控功能。
UIH-1C 作為 UIH 系列的基礎型號，通過 150W 高亮度光源和精確的光學設計，能夠滿足半導體 Wafer 及 Mask Glass 在生產過程中的表面傷痕、異物及內部氣泡的目視檢測需求。其結構緊湊（約 7kg）且采用標準的變壓器式電源，適合對特定尺寸工件（如設計照射徑 φ40mm 的對象）進行高精度的光學檢查。
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